YS/T 839-2012 硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-16 07:30:00 浏览:9137
来源:标准资料网
基本信息
标准名称: | 硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法 |
发布部门: | 中华人民共和国工业和信息化部 |
发布日期: | 2012-11-07 |
实施日期: | 2013-03-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2013-03-01 |
适用范围
本方法规定了用椭圆偏振测试方法测量生长或沉积在硅衬底上的绝缘体薄膜厚度及折射率的方法。
本方法适用于薄膜对测试波长没有吸收和衬底对测试波长处不透光、且已知测试波长处衬底折射率和消光系数的绝缘体薄膜厚度及折射率的测量。对于非绝缘体薄膜,满足一定条件时,方可采用本方法。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类: 能源 核技术 能源 核技术综合 技术管理 能源和热传导工程 能源和热传导工程综合
【英文标准名称】:Geometricalproductspecifications(GPS)-GOringgaugesandsettingringgauges-Part2:From1mmupto315mmnominaldiameterforprecisionmechanics
【原文标准名称】:产品几何量技术规范(GPS)过端环规和定位环规第2部分:精密机械的1mm~315mm标称直径
【标准号】:DIN2250-2-2008
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2008-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:尺寸;精密机械;量规;产品几何量技术规范;过端量规;过端环规;GPS;长度测量技术;测量仪器;产品规范;产品试验;环规;定位规;调整环;规范(验收)
【英文主题词】:Dimensions;Finemechanics;Gauges;Geometricalproductspecification;Go-gauges;Go-ringgauges;GPS;Lengthmeasuringtechniques;Measuringinstruments;Productspecifications;Producttests;Ringgauges;Settinggauges;Settingrings;Specification(approval)
【摘要】:ThisstandardappliestoGOringgauges(FG)andsettingrings(FC)usedpredominantlyinprecisionengineering.FCsettingringscanalsobeusedasGOgaugesforthemajordiametersofexternalthreads.
【中国标准分类号】:J42
【国际标准分类号】:17_040_30
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:英语
基本信息
标准名称: | 粒度分析 图像分析法 第1部分:静态图像分析法 |
英文名称: | Particle size analysis - Image analysis methods - Part 1: Static image analysis method |
中标分类: |
综合 >>
基础标准 >>
筛分、筛板与筛网 |
ICS分类: |
试验 >>
粒度分析、筛分
|
发布部门: | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
发布日期: | 2008-04-16 |
实施日期: | 2008-10-01 |
首发日期: | 2008-04-16 |
作废日期: | |
主管部门: | 国家标准化管理委员会 |
提出单位: | 全国筛网筛分和颗粒分检方法标准化技术委员会 |
归口单位: | 全国筛网筛分和颗粒分检方法标准化技术委员会 |
起草单位: | 北京市理化分析测试中心、北京钢铁研究总院 |
起草人: | 周素红、邹涛、陈萦、卢庆新、郑毅、方建锋 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2008-06-01 |
页数: | 34页 |
计划单号: | 20067085-T-469 |
书号: | 155066·1-31687 |
适用范围
GB/T21649《粒度分析 图像分析法》分为两个部分,本部分是GB/T21649的第1部分。本标准规定了利用静态图像分析法测定颗粒粒度分布的方法。本部分适用于测定能够从显微镜中获得图像的颗粒的粒度分布。本部分修改采用ISO13322-1:2004《粒度分析 图像分析法 第1部分:静态图像分析法》(英文版)。
前言
没有内容
目录
前言Ⅰ
引言Ⅱ
1 范围1
2 规范性引用文件1
3 术语、缩略语、定义与符号1
3.1 术语、缩略语与定义1
3.2 符号2
4 本方法要求的样品制备3
4.1 总的推荐方法3
4.2 制样方法4
5 图像采集4
5.1 总则4
5.2 步骤4
5.3 图像采集仪的操作条件4
6 显微镜和图像分析5
6.1 总则5
6.2 粒度分级和放大5
6.3 计数步骤5
7 粒度的计算结果8
8 试验报告9
附录A(规范性附录) 用于评估样品平均粒径所需的颗粒尺寸的研究10
附录B(规范性附录) 操作时的放大倍率23
附录C(规范性附录) 典型物镜的分辨率和粒度区间24
附录D(资料性附录) 典型图像分析法的流程图25
附录E(资料性附录) 平均值和方差的统计检验(方差分析和多样性比较) 26
附录F(资料性附录) 几种制样方法28
参考文献30
引用标准
下列文件中的条款通过GB/T21649的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
ISO9276-1 粒度分析结果的表示 第1部分:图示表示法
ISO9276-2 粒度分析结果的表示 第2部分:由粒度分布计算平均粒径/直径和各次矩
所属分类: 综合 基础标准 筛分 筛板与筛网 试验 粒度分析 筛分